-演講時間: 114年5月28日（三） 14:00~16:00

-演講地點: E6-A207教室

-演講者: 張閎翰博士 (臻鼎科技)

-演講主題: 深度學習在高精密檢測任務中的挑戰與解決方案

-摘要： 在高精密製造領域，例如 PCB、半導體等產業，缺陷檢測與尺寸量測的容錯空間極小，對 AI 模型的準確度、穩定性與泛化能力提出高度挑戰。本演講將介紹深度學習技術在高精密視覺檢測任務中的實務應用，包括模型選型、資料建構、AI生成等核心議題，並分享導入過程中面臨的困難與對應解法，期望激發學生對工業 AI 技術落地應用的理解與興趣。